Bruker Optics GmbH & Co. KG
Stand: 20-A32
Mess-, Steuer- und Regeltechnik
Qualitätssicherung und -kontrolle
Werksstoff- und Bauteilprüfungen
LUMOS II – Defekte, Schichten & Oberflächen
FT-IR-Mikroskop für die mikroskopische Fehlersuche an Kunststoffen. Ideal zur Analyse von Partikeln, Einschlüssen, Black Specks, Folienlagen, Beschichtungen, Rückständen, Delamination und Oberflächenkontaminationen.
https://www.bruker.com/de/products-and-solutions/infrared-and-raman/ft-ir-microscopes/lumos-ii-ft-ir-microscope.html
